Niwelacja trygonometryczna w pomiarach szczegółowych / Aleksander Skórczyński.
Language: Polish Series: (Skrypty WPW dla Kierunku Geodezja i Kartografia)Publication details: Warszawa : Wydaw. Politechniki Warszawskiej, 1993.Description: 127 s. : il. ; 24 cmSubject(s):Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds |
---|---|---|---|---|---|---|
Księgozbiór Podstawowy | Biblioteka Główna Politechniki Częstochowskiej Magazyn Biblioteki Głównej | Z 075663-00-00/01 | Available | 04075663000001 |
Total holds: 0
bibliogr.
There are no comments on this title.