Podstawy metrologii. Cz. 1, Proces poznawczy, wielkości mierzalne / Władysław Grundlach, Jan Ciepłucha, Dorota Kozanecka.
Language: Polish Series: Skrypty dla Szkół Wyższych (Politechnika Łódzka)Publication details: Łódź : Wydaw. Politechniki Łódzkiej, 1988.Description: 93 s. : il., tabl. 2 ; 21 cmSubject(s):Item type | Current library | Call number | Vol info | Status | Date due | Barcode | Item holds |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Księgozbiór Podstawowy | Biblioteka Główna Politechniki Częstochowskiej Magazyn Biblioteki Głównej | Z 069161-01-00/01 | Tom 1 | Available | 04069161010001 |
Total holds: 0
bibliogr.
There are no comments on this title.