Podstawy metrologii. Cz. 1, Proces poznawczy, wielkości mierzalne /
Władysław Grundlach, Jan Ciepłucha, Dorota Kozanecka.
- Łódź : Wydaw. Politechniki Łódzkiej, 1988.
- 93 s. : il., tabl. 2 ; 21 cm.
- Skrypty dla Szkół Wyższych / Politechnika Łódzka .
- Skrypty dla Szkół Wyższych (Politechnika Łódzka) .