Grundlach, Władysław.

Podstawy metrologii. Cz. 1, Proces poznawczy, wielkości mierzalne / Władysław Grundlach, Jan Ciepłucha, Dorota Kozanecka. - Łódź : Wydaw. Politechniki Łódzkiej, 1988. - 93 s. : il., tabl. 2 ; 21 cm. - Skrypty dla Szkół Wyższych / Politechnika Łódzka . - Skrypty dla Szkół Wyższych (Politechnika Łódzka) .

bibliogr.

53.08+389+621.317