Grundlach, Władysław. <br/><br/>
Podstawy metrologii.  Cz. 2,  Proces pomiarowy / 
Władysław Grundlach, Jan Ciepłucha, Dorota Kozanecka. 
 - Łódź :  Wydaw. Politechniki Łódzkiej,  1988. 
 - 178 s. :  il. ;  24 cm. 
 - Skrypty dla Szkół Wyższych / Politechnika Łódzka .
 - Skrypty dla Szkół Wyższych (Politechnika Łódzka) .
<br/><br/>bibliogr. 
<br/><br/><label>Uniwersalna Klasyfikacja Dziesiętna: </label> 389.1:531.7