Kształcenie w zakresie metrologii w obliczu wyzwań nowych technologii. Wrocław, 8-12 wrzesień 2002.  Vol. 3,  Referaty grantowe. 

 - Wrocław :  Oficyna Wydaw. Politechniki Wrocławskiej,  2002. 
 - X, 162 s. :  il. ;  24 cm. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>8370856497 
<br/><br/><label>Uniwersalna Klasyfikacja Dziesiętna: </label> 621.317:061.3