000 00696cam a2200229 i 4500
001 pc07014076k
008 001107s1993 00 pol
935 _a0014-07660
040 _aCZEST 2/OOZ/CK
041 0 _apol
080 _a528.3/.4(075.8)
100 1 _aSkórczyński, Aleksander.
245 1 0 _aNiwelacja trygonometryczna w pomiarach szczegółowych /
_cAleksander Skórczyński.
260 _aWarszawa :
_bWydaw. Politechniki Warszawskiej,
_c1993.
300 _a127 s. :
_bil. ;
_c24 cm.
440 0 _a(Skrypty WPW dla Kierunku Geodezja i Kartografia)
504 _abibliogr.
998 _aNIWELACJA
998 _aPOMIARY GEODEZYJNE
990 _a0
942 _2z
_cZ
999 _c14079
_d14079