| 000 | 00740cam a2200241 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | pc01016952k | ||
| 008 | 011214s2001 00 pol | ||
| 020 | _a8370855563 | ||
| 935 | _a0016-95260 | ||
| 040 | _aCZEST 2/OOZ/LSz | ||
| 041 | 0 | _apol | |
| 080 | _a621.38 | ||
| 100 | 1 | _aŁozowski, Tadeusz. | |
| 245 | 1 | 0 |
_aNieniszczące metody i urządzenia do charakteryzacji warstw wysokooporowych / _cTadeusz Łozowski. |
| 260 |
_aWrocław : _bOficyna Wydaw. Politechniki Wrocławskiej, _c2001. |
||
| 300 |
_a124 s. : _bil. ; _c24 cm. |
||
| 504 | _abibliogr. | ||
| 920 | _a83-7085-556-3 | ||
| 998 | _aWARSTWY DIELEKTRYCZNE | ||
| 998 | _aWARSTWY PÓŁPRZEWODNIKOWE | ||
| 998 | _aFOLIE DIELEKTRYCZME | ||
| 942 |
_2z _cZ |
||
| 999 |
_c16920 _d16920 |
||