| 000 | 00756cam a2200241 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | pc06031322k | ||
| 008 | 060703s1975 00 pol | ||
| 935 | _a0031-32260 | ||
| 040 | _aCZEST 2/OOZ/AK | ||
| 041 | 0 | _apol | |
| 080 | _a621.382:621.315.5:537.311.33 | ||
| 100 | 1 | _aŚwiderski, Jarosław. | |
| 245 | 1 | 0 |
_aTechniczne badania właściwości materiałów i struktur półprzewodnikowych / _cJarosław Świderski. |
| 260 |
_aWarszawa: _bPaństw. Wydaw. Nauk., _c1975. |
||
| 300 |
_a135 s. : _bil. ; _c24 cm. |
||
| 440 | 0 | _a(Biblioteka Elektroniki) | |
| 504 | _abibliogr. | ||
| 998 | _aELEKTRONIKA | ||
| 998 | _aWŁASNOŚCI MATERIAŁÓW | ||
| 998 | _aBADANIA MATERIAŁÓW | ||
| 998 | _aPÓŁPRZEWODNIKI | ||
| 942 |
_2z _cWE |
||
| 999 |
_c31129 _d31129 |
||