| 000 | 00849cam a2200253 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | pc09040627k | ||
| 008 | 091229s2008 00 pol | ||
| 020 | _a8374570473 | ||
| 935 | _a0040-62760 | ||
| 040 | _aCZEST 2/OOZ/LSz | ||
| 041 | 0 | _apol | |
| 080 | _a621.382:538.91:621.384 | ||
| 100 | 1 | _aKaczmarek, Sławomir Maksymilian. | |
| 245 | 1 | 0 |
_aWpływ promieniowania jonizującego na właściwości optyczne materiałów stosowanych w optoelektronice / _cSławomir Maksymilian Kaczmarek. |
| 260 |
_aSzczecin : _bWydaw. Uczelniane Politechniki Szczecińskiej, _c2008. |
||
| 300 |
_a192 s. : _bil. ; _c24 cm. |
||
| 504 | _abibliogr. | ||
| 920 | _a83-7457-047-3 | ||
| 998 | _aOPTOELEKTRONIKA | ||
| 998 | _aKRYSZTAŁY | ||
| 998 | _aDEFEKTY SIECI KRYSTALICZNEJ | ||
| 998 | _aPROMIENIOWANIE JONIZUJĄCE | ||
| 942 |
_2z _cP |
||
| 999 |
_c40289 _d40289 |
||