000 01072cam a2200289 i 4500
001 pc18047114k
008 130624s2013 00 pol
020 _a8371935725
935 _a0047-11460
040 _aCZEST 2/OOZ/EM
041 0 _apol
080 _a620.19:004.032.26:778.3
100 1 _aDudzik, Sebastian.
245 1 0 _aWyznaczanie głębokości defektów materiałowych z zastosowaniem aktywnej termografii dynamicznej i sztucznych termografii dynamicznej i sztucznych sieci neuronowych /
_cSebastian Dudzik.
260 _aCzęstochowa :
_bWydaw. Politechniki Częstochowskiej,
_c2013.
300 _a205 s. :
_bil. ;
_c24 cm.
490 1 _aMonografie / Politechnika Częstochowska,
_x0860-5017 ;
_vnr 256
504 _abibliogr.
830 0 _aMonografie (Politechnika Częstochowska)
_xISSN 0860-5017
_vnr 256
920 _a83-7193-572-5
998 _aDEFEKTOSKOPIA
998 _aBADANIA NIENISZCZĄCE MATERIAŁÓW
998 _aTERMOWIZJA
998 _aSZTUCZNE SIECI NEURONOWE
998 _aALGORYTMY
942 _2z
_cP
999 _c46498
_d46498