000 00661cam a2200229 i 4500
001 pc02017831k
008 020601s1974 00 pol
935 _a0017-83160
040 _aCZEST 2/OOZ/LSz
041 0 _apol
080 _a669.056:620.18
100 1 _aSękowski, Stefan.
245 1 0 _aNieniszczące metody pomiarów grubości powłok ochronnych /
_cStefan Sękowski.
260 _aWarszawa :
_bBranżowy Ośrodek Informacji Nauk.-Tech. i Ekon.,
_c1974.
300 _a115 s. :
_bil. ;
_c24 cm.
504 _abibliogr.
998 _aPOWŁOKI OCHRONNE
998 _aPOMIARY
990 _a1
942 _2z
_cZ
999 _c62868
_d62868