Normal view MARC view ISBD view

Podstawy metrologii. Cz. 2, Proces pomiarowy /

Grundlach, Władysław.

Podstawy metrologii. Cz. 2, Proces pomiarowy / Władysław Grundlach, Jan Ciepłucha, Dorota Kozanecka. - Łódź : Wydaw. Politechniki Łódzkiej, 1988. - 178 s. : il. ; 24 cm. - Skrypty dla Szkół Wyższych / Politechnika Łódzka . - Skrypty dla Szkół Wyższych (Politechnika Łódzka) .

bibliogr.

Uniwersalna Klasyfikacja Dziesiętna: 389.1:531.7

Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
NUKAT Inne biblioteki (WorldCat) Inne bazy danych (Google Scholar) Open Library (openlibrary.org)