Podstawy metrologii. Cz. 2, Proces pomiarowy / Władysław Grundlach, Jan Ciepłucha, Dorota Kozanecka.

By: Contributor(s): Language: Polish Series: Skrypty dla Szkół Wyższych (Politechnika Łódzka)Publication details: Łódź : Wydaw. Politechniki Łódzkiej, 1988.Description: 178 s. : il. ; 24 cmSubject(s):
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Item type Current library Call number Vol info Status Date due Barcode Item holds
Księgozbiór Podstawowy Biblioteka Główna Politechniki Częstochowskiej Magazyn Biblioteki Głównej Z 069161-02-00/01 Tom 2 Available 04069161020001
Total holds: 0

bibliogr.

There are no comments on this title.

to post a comment.

Biblioteka Główna

BIBLIOTEKA GŁÓWNA
POLITECHNIKI CZĘSTOCHOWSKIEJ

al. Armii Krajowej 36
42-201 Częstochowa

Inne katalogi

NUKAT KaRo Biblioteka Narodowa WorldCat

Biblioteki cyfrowe

FBC Federacja Bibliotek Cyfrowych EUROPEANA POLONA

Wyszukiwarki naukowe

Google Books Google Scholar WorldWideScience
Polityka prywatności RODO Deklaracja dostępności